岛津EDX-LE型X射线荧光光谱仪
岛津EDX-LE型X射线荧光光谱仪EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 （主营EDX-700，EDX-720，EDX-700，EDX-LE等X射线荧光光谱仪）配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器。
美国珀金埃尔默热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA
美国珀金埃尔默热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA美国PerkinElmer一直致力于热分析的前沿开发，我们新推出的热重分析仪TGA4000、Pyris 1 TGA，使用更加便捷，性能更加卓越。无论应用于新材料研究还是产品质量控制，TGA 4000都时刻显示出极佳的结果。
荧光光谱测量系统
光谱测量系统 荧光光谱测量系统 荧光光谱测量系统的说明 荧光光谱测量系统的介绍 荧光光谱测量系统的特点 荧光光谱测量系统的简图
岛津EDX-GP型X射线荧光光谱仪
岛津EDX-GP型X射线荧光光谱仪 EDX-GP是适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 第一次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到高灵敏度与佳分辨率的完美结合。EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的
日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪
日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪,日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列产品.
光致发光光谱成像测量系统
光谱系统 光谱测量系统 光谱成像测量系统 光致发光光谱成像测量系统 PMEye-3000光致发光光谱成像测量系统 光致发光光谱成像测量系统的测试原理 光致发光光谱成像测量系统的主要特点 光致发光光谱成像测量系统的主要功能和技术参数
微X－射线荧光光谱仪
X-Pectra代表新一代的X射线微荧光光谱仪，它用来描述许多种材料的化学混合物的结构，包括固体，液体，薄膜和粉末 样品。 应用领域包括冶金和有色金属，地质，矿业，珠宝，法医科学，艺术品估，海关监察，
X荧光6900 6800 6306测黄金，铂金纯度,首饰无损鉴定
X射线荧光光谱法是取代试金石法、比重法、化学方法测金的佳选择。仪器可检测各种形状的金、铂、银及其它贵金属饰品，并可显示X荧光光谱图象和金、银、铜及合金的含量。
